在光學測量領域,精度與靈敏度決定著科研與工業的邊界。
在現代光學測量領域,日本大塚電子(OTSUKA Electronics)的高靈敏度光譜輻射計代表了光譜測量技術的頂尖水平。其中HS-1000型號作為核心產品,集成了多項技術,實現了從極低亮度到高亮度的精確測量。
這款儀器通過衍射光柵分光和熱電冷卻線性陣列傳感器技術,能夠在355nm至835nm的波長范圍內,測量低0.005 cd/m2的亮度,最高可達400,000 cd/m2,幾乎覆蓋了所有常見的光源和顯示設備的測量需求。
01 技術原理與設計理念
OTSUKA高靈敏度光譜輻射計的核心工作原理基于分光光度法,通過精密的光學系統與信號處理技術,實現了遠超傳統光譜儀的性能指標。
其核心分光元件采用衍射光柵,能夠將入射的復合光按波長精確分解成光譜。這種設計避免了傳統棱鏡分光帶來的色散不均勻問題,為高精度測量奠定了基礎。
在傳感器方面,該設備采用了熱電冷卻的線性陣列傳感器,這種冷卻技術能顯著降低傳感器本身的噪聲。
這對于測量微弱光信號至關重要,是實現高靈敏度的關鍵因素,尤其在對低輝度光源如熒光、電漿發光的測量中表現突出。
大塚電子的技術(CN100494924C)還采用了二維檢測表面設計,通過從譜光照射區域的信號強度中減去非照射區域的信號強度,有效消除了設備內部產生的漫射光以及在傳感器表面因反射和衍射產生的雜散光影響。
02 核心性能參數
HS-1000光譜輻射計的性能參數體現了其在光學測量領域的地位:
波長范圍:355nm~835nm(可擴展至330nm~1100nm),覆蓋CIE推薦的寬波長范圍
亮度測量范圍:0.005 cd/m2~400,000 cd/m2,跨度高達8個數量級
測量角度:支持0.1°、0.2°、1°、2°多種測量角,適應不同大小樣品的測量需求
測量距離:從物鏡前端起240mm至無限遠
亮度精度:±2%,色度精度:±0.002以下,保證測量結果的可靠性
偏振誤差:<1%,即使對LCD這樣具有明顯偏振特性的樣品也能保持高精度測量
測量速度:包括通信時間在內最短1秒完成測量,連續測量時最快可達約20毫秒/次
03 關鍵技術特點
高靈敏度與寬動態范圍
HS-1000的靈敏度使其能夠檢測到0.005 cd/m2的超低亮度信號。
這一性能來自于其獨特的光學設計和信號處理電路,在寬亮度和波長范圍內實現了低噪聲、高精度測量。
同時,儀器支持寬廣的亮度范圍而無需更改測量角度,在視野角2°時,測量范圍從0.005 cd/m2至4,000 cd/m2。
這種寬動態范圍意味著用戶無需頻繁調整儀器設置即可應對不同亮度的測量對象,大大提升了測量效率。
低偏振誤差與精確色彩還原
該設備采用特殊光學系統,能將偏振誤差控制在1%以下。
這一特性使得即使測量像LCD屏幕這樣具有明顯偏振特性的光源,也能保證很高的精度,解決了顯示設備測量中的一大難題。
儀器支持多種顏色標準,包括CIE1931 xy色度坐標、CIE1976 U‘V’色度坐標,還可以按照CIECAM02標準輸出(一種顏色外觀模型),以及按照“CIE200:2011標準" 進行輸出,該標準考慮了中間視覺(浦肯野現象)。
高速測量與頻率照明適配
HS-1000具備高速測量能力,包括通信時間在內最短1秒即可完成測量。
在連續測量模式下,速度更可提升至約20毫秒/次,甚至更快。這一特性使其能夠適應生產線上的高速檢測需求。
針對頻率照明光源,儀器提供了高精度穩定測量的解決方案。
通過輸入照明頻率,曝光時間會自動設置為照明周期的整數倍,有效消除了因頻率波動導致的測量誤差。
04 主要測量項目
OTSUKA高靈敏度光譜輻射計能夠進行多項光學參數測量,主要包括:
此外,選配的HS-1000RT功能還可實現動態畫面反應時間(MPRT) 測量,特別適用于顯示設備的動態性能評估。
05 應用領域
顯示設備測量
HS-1000廣泛用于LCD、PDP、有機EL、大型LED視覺等顯示器件的光譜數據、亮度、色度及相關色溫測量。
其低于1%的偏振誤差特性使它在LCD顯示器測量中表現。
對于新興的顯示技術,如OLED和micro-LED,其高靈敏度和精確色彩還原能力同樣能夠提供準確的性能評估。
光源與照明測量
該儀器適用于各種光源的光譜數據、亮度、色度、相關色溫測量。
無論是傳統的白熾燈、熒光燈,還是LED和OLED照明產品,HS-1000都能提供全面的光學參數測量。
標準參考與非接觸顏色測量
由于其高精度和穩定性,HS-1000常被用作各種亮度和色度測量儀器的標準參考設備。
同時,它的非接觸式物體顏色測量能力,使其在需要無損檢測的領域,如文物保護、產品質量控制等方面也有廣泛應用。
06 軟件功能與系統集成
HS-1000配備了功能強大的測量軟件,提供簡易模式和進階模式兩種操作界面。
用戶可根據使用習慣和測量復雜度自由切換,大大提升了操作靈活性。
軟件提供測量值、光譜波長、解析圖表、色度坐標等單一視窗顯示功能,使評估結果一目了然。
標準軟件還具備波長間的四則運算、波長與常數間的四則運算,以及波長與函數間的處理功能,滿足專業用戶的深度分析需求。
在系統集成方面,HS-1000可搭配動態畫面反應時間測量功能(HS-1000RT),擴展其在顯示設備動態性能評估方面的能力。
07 產品系列與定位
除了HS-1000高靈敏度光譜輻射計,大塚電子還提供了完整的光學測量解決方案,包括:
MCPD系列多通道光譜儀:采用多通道并行檢測技術,能夠在5毫秒內完成一次從紫外到近紅外波段的光譜測量,高動態范圍可達1,000,000:1以上
總光譜光通量測量系統HM/FM系列:可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量,系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準
分光配光測量系統GP series:支持長達2400毫米的LED照明燈具的光分布測量,還可用于有機EL和大型顯示器的光分布測量
這些產品與HS-1000共同構成了大塚電子在光學測量領域的完整產品線,滿足從基礎研究到工業生產的多層次需求。
大塚電子的光譜測量技術已廣泛應用于全球多家半導體工廠、研究機構。
其每5毫秒捕獲一次全光譜數據的能力,使生產線能夠實現100%在線質量檢測,避免了傳統抽樣檢查的盲區。
隨著工業互聯網與智能制造的深度融合,這種高速、高精度的光譜儀不再是實驗室的專屬工具,而正成為智能工廠的“光學傳感器"。